全自動掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高分辨率電子顯微鏡，它通過電子束掃描樣品表面，通過對電子束的反射、散射、透射等特征進行檢測，獲取樣品的形貌、結構、成分等信息。相比傳統(tǒng)光學顯微鏡，SEM具有更高的分辨率和更大的深度，能夠觀察到更小的樣品細節(jié)和更高的放大倍數(shù)。
全自動掃描電子顯微鏡廣泛應用于材料科學、電子、生物醫(yī)學、納米技術等領域中，能夠對各種材料的結構和性質進行分析和研究，如金屬材料、陶瓷材料、聚合物材料、生物樣品等。其能夠提高材料研究和生產的效率和質量，為科學研究和工業(yè)生產提供強有力的支持。
全自動掃描電子顯微鏡的主要特點如下：
高分辨率：SEM能夠實現(xiàn)亞納米級別的高分辨率觀測，能夠觀察到樣品的微觀結構和成分。
大深度：SEM能夠觀察到樣品的深層結構，深度可以達到數(shù)十微米。
全自動化：SEM采用計算機控制系統(tǒng)，能夠實現(xiàn)全自動化的操作，提高測試效率。
顯示直觀：SEM采用數(shù)字化顯示屏，顯示直觀，能夠對樣品進行實時觀測和分析。
多功能性：SEM能夠實現(xiàn)多種分析功能，如成分分析、晶體結構分析、磁性分析等。
易于操作：SEM操作簡便，能夠快速進行樣品的準備和測試。
